X熒光(guāng)光(guāng)譜儀

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X熒光(guāng)光(guāng)譜儀

能量色散 X 熒光(guāng)光(guāng)譜儀 XTU-50 鍍層膜厚分(fēn)析儀 目 錄 一、産品型号 1.1 産品型号 二、儀器介紹 2.1 儀器概述 2.2 性能優勢 2.3 技術指标 三、儀器硬件主體配置 3.1 設備外觀 3.1 探測系統 3

詳細介紹
能量色散X熒光(guāng)光(guāng)譜儀
 
 
XTU-50 鍍層膜厚分(fēn)析儀

 
    錄 
 
一、産品型号
1.1 産品型号
二、儀器介紹
2.1 儀器概述
2.2 性能優勢
2.3 技術指标
三、儀器硬件主體配置
  3.1 設備外觀
  3.1 探測系統
  3.2 X光(guāng)管
3.3 高(gāo)壓電源
3.4 微動平台
  3.5 高(gāo)分(fēn)辨率CCD­
  3.6 散熱(rè)系統
  3.7 防輻射安全系統
四、儀器軟件配置
  4.1 軟件界面
  4.2 功能特點 
五、儀器的(de)外圍設備
  5.1 計算(suàn)機
  5.2 噴墨打印機
5.2 儀器相關配件及技術資料
六、技術支持及售後服務
 
 
 
 
一、産品型号
 
儀器型号 探測器 X光(guāng)管 高(gāo)壓電源
XTU-50 AMPTEK SDD型(美(měi)國進口) 美(měi)國瓦裏安公司進口 Spellman(美(měi)國進口)
二、儀器簡介
2.1 儀器概述  
XTU-50鍍層膜厚分(fēn)析專用(yòng)X射線熒光(guāng)光(guāng)譜儀是公司經過3年研發,專門針對(duì)金屬合金、鋁型材、塑料等材料鍍層分(fēn)析、達克羅塗覆層分(fēn)析的(de)普及機型,三重射線防護系統;人(rén)性化(huà)操作界面;獨創的(de)VisualFp基本參數法分(fēn)析軟件,可(kě)不用(yòng)标準樣品标定,即可(kě)對(duì)客戶樣品鍍層膜厚測試、基材成分(fēn)分(fēn)析。精心設計的(de)開放式工作曲線功能,特别适用(yòng)于工藝複雜(zá)材料的(de)工廠鍍層、塗層的(de)制程控制。
2.2 性能優勢  
1.獨創的(de)VisualFp基本參數法分(fēn)析軟件,可(kě)不用(yòng)标準樣品标定,即對(duì)樣品鍍層膜厚進行精準測試
2.除可(kě)對(duì)金屬鍍層測試外,還(hái)可(kě)對(duì)合金鍍層、鋁合金鍍層、玻璃鍍層、塑料鍍層進行精确測量,開創了(le)XRF對(duì)鍍層測厚的(de)全面技術
3.軟件可(kě)根據樣品材質、形狀和(hé)大(dà)小自動設定光(guāng)管功率,既能延長(cháng)光(guāng)管使用(yòng)壽命又能充分(fēn)發揮探測器性能,大(dà)幅提高(gāo)測量精度
4.業内唯一提供開放式工作曲線标定平台,可(kě)爲每家用(yòng)戶量身定做(zuò)最佳的(de)鍍層分(fēn)析工作曲線
5.三重射線防護(軟件、硬件、迷宮設計),确保操作人(rén)員(yuán)人(rén)身安全與意外操作帶來(lái)的(de)輻射傷害
6.儀器外部對(duì)樣品微調設計,降低及防止樣品放置好後關閉樣品蓋産生振動而使測試位置發生變化(huà)導緻的(de)測試不準确性
7.可(kě)根據用(yòng)戶要求自行定制測試報告輸出格式(Excel、PDF等),符合工廠多(duō)種統計及格式要求
8.業内第一家對(duì)達克羅塗覆工藝厚度分(fēn)析的(de)軟件方法,完全取代金相顯微鏡技術在該行業的(de)應用(yòng)
9.軟件對(duì)多(duō)次測試結果進行統計分(fēn)析功能
10.業内第一家既可(kě)以測試鍍層厚度,又可(kě)以同時(shí)分(fēn)析基材及鍍層成分(fēn)的(de)XRF
2.3 儀器技術指标
1、儀器尺寸:550(W)x480(D)x470(H)mm
2、樣品腔尺寸:500*360*215mm;
3、最低檢測厚度:0.005um
4、檢測厚度上限,50 - 80um(視材料而定)
5、最多(duō)測試層數:10層
6、最小測量面積:0.002mm
7、最佳分(fēn)辨率:見下(xià)面探測系統詳細參數說明(míng)
8、準直器:Φ0.1mm、Φ1mm、Φ2mm、Φ4mm自動切換
9、濾光(guāng)片:5種濾光(guāng)片自動切換
10、CCD觀察:260萬像素高(gāo)清CCD
11、樣品微動範圍:XY50mm
12、輸入電源:AC220V~240V,50/60Hz
13、額定功率:350W
14、重量:約45Kg
15、工作環境溫度:溫度15—30℃
16、工作環境相對(duì)濕度:≤85%(不結露)
17、穩定性:多(duō)次測量重複性誤差小于0.1%
 
 
三、儀器硬件主體配置
3.1 設備外觀
IMG_256
 
3.2 探測系統
探測器 類型:AMPTEK SDD(整套原裝美(měi)國進口)
Be窗(chuāng)­­­:1mil(0.0254mm)
最佳分(fēn)辨率:129±5eV
系統峰背比:≥ 6200/1
能量響應範圍:1keV — 40keV
推薦計數率:50000cps
 
3.3 X光(guāng)管
光(guāng)管 型号:美(měi)國瓦裏安
電    壓: 0 ~ 50 kV
最大(dà)電流: 1.0 mA
最大(dà)功率: 50 W
燈絲電壓: 2.0V
燈絲電流: 1.7 A
射線取出角:12°
靶    材:Mo
Be窗(chuāng)厚度:400um
 
3.4 高(gāo)壓電源 
spell2 型号:Spellman(美(měi)國原裝進口)
輸入電壓: DC +24V±10%
輸入電流:4.0A(最大(dà))
輸出電壓: 0 -50KV & 1mA
最大(dà)功率:50W
電壓調整率:0.01% (從空載到滿載)
電流調整率:0.01% (從空載到滿載)
紋波系數:0.1% (P-P值)
8小時(shí)穩定性:≤0.05%
 
   
3.5 微動平台
載物(wù)測試平台,微調裝置在儀器外面,結合260萬像素的(de)高(gāo)清CCD,對(duì)測試樣品進行精确定位,防止樣品放置好後關閉樣品蓋産生振動而使測試位置發生變化(huà)導緻測試不準确;
3.6 高(gāo)分(fēn)辨率CCD
260萬像素的(de)高(gāo)清CCD攝像頭,可(kě)有效的(de)實時(shí)觀察測試區(qū)域狀況,并拍(pāi)下(xià)物(wù)料照(zhào)片,作爲檢測報告的(de)組成部分(fēn)。
3.7 散熱(rè)系統
散熱(rè) 高(gāo)效三維散熱(rè)系統,大(dà)幅度提供儀器的(de)可(kě)靠性、穩定性。
 
 
四、儀器軟件配置
4.1 儀器操作軟件功能   
1、軟件界面
軟件副本
2、功能特點
1.  預置多(duō)條工作曲線,涵蓋銅基體、鐵基體、鋅基體等基體類型的(de)常見鍍層,可(kě)滿足用(yòng)戶常規鍍層測量的(de)要求;
2.  華唯獨創VisualFp基本參數法分(fēn)析軟件,在分(fēn)析鍍層厚度的(de)同時(shí)分(fēn)析基材及鍍層成分(fēn)含量,實用(yòng)價值大(dà)大(dà)超出客戶的(de)想象空間;
3.  人(rén)性化(huà)的(de)軟件界面與操作方法,使用(yòng)獨有圖形顯示技術,既方便又直觀;結合大(dà)量操作經驗優化(huà)操作步驟,極大(dà)方便用(yòng)戶;
4.  完善的(de)安全連鎖功能:配合硬件電路的(de)防護措施,在不安全的(de)操作發生時(shí)自動切斷X射線确保操作員(yuán)不受X射線傷害;
5.  數據管理(lǐ):由數據庫支持的(de)專業化(huà)報表生成、查詢打印等功能極大(dà)方便企業管理(lǐ);
6.  智能化(huà)軟件保護,避免不當操作對(duì)光(guāng)譜儀的(de)損傷,延長(cháng)儀器使用(yòng)壽命;
7.  數據自動保存:所有樣品測試後的(de)數據均會自動保存,測試結果具有可(kě)追溯性;
8.  穩定性自檢功能:可(kě)即時(shí)對(duì)儀器當前穩定性進行自動檢測;
9.  軟件具有對(duì)多(duō)次測試結果的(de)統計功能,極大(dà)地方便客戶數據管理(lǐ)。
五、儀器的(de)外圍設備
5.1 儀器标配設備參數
5.1.1 計算(suàn)機
CPU:intel雙核     内存:2G
硬盤:500G         顯示器:19英寸


5.1.2 噴墨打印機
彩色噴墨印機5.1.3 儀器随機配件及技術資料                         
測試薄膜           50片
保險管             五個(gè)
保修卡             一份
合格證             一份       
儀器操作手冊       一本
輻射安全檢測報告   一份
 
六、技術支持及售後服務    
1、爲客戶免費提供操作培訓,培訓期一至三天。
2、整機保修一年,全國聯網售後保修,并終身提供技術服務支持。
3、保修期内的(de)非人(rén)爲因素儀器損壞,免費維修。
 
 
 
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