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| 探測系統 | 圖片 |
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類型：美(měi)國電制冷(lěng)高(gāo)性能探測器 (采用(yòng)PIN結構的(de)高(gāo)性能電緻冷(lěng)半導體探測器) 規格: Be窗(chuāng)厚度：1mil DC5V電源供電，USB超高(gāo)速信号輸出， 25平方面積晶體，信号處理(lǐ)穩定快(kuài)速； 分(fēn)辨率149eV； 産地：美(měi)國Amptek |
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| X光(guāng)管 | 圖片 |
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電 壓: 0 ~ 50 KV 最大(dà)電流: 1.0 mA 最大(dà)功率: 50 W 燈絲電壓: 2.0V & 50 KV/1mA 燈絲電流: 1.7 A 射線取出角：12° 靶 材：Mo Be窗(chuāng)厚度：0.5mm 産地：上海科頤維射線管 |
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高(gāo)壓電源 輸入電壓: DC +24V±10% 輸入電流：4.0A（最大(dà)） 輸出電壓: 0 -50KV & 1mA 最大(dà)功率：50W 電壓調整率：0.01% （從空載到滿載） 電流調整率：0.01% （從空載到滿載） 紋波系數：0.1% （P-P值） 8小時(shí)穩定性：0.05% 産地：美(měi)國Spellman |
 可(kě)分(fēn)析（鉛Pb、鉻Cr、镉Cd、汞Hg、溴Br）等有害重金屬元素 |
| 計算(suàn)機（标配） | |
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品 牌：商務電腦(nǎo)聯想 |
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| 噴墨打印機（标配） | |
| 彩色噴墨印機 | |
| 儀器的(de)其它項目配置 | 圖片 |
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樣品杯 2個(gè) 标配
測試薄膜 100片 标配 |
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| 儀器的(de)标準物(wù)質配置 | 圖片 |
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金校準樣品 一個(gè) 标配
RoHS标準樣 一個(gè) 标配
合金标樣 一個(gè) 标配 |
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