XAN® 系列儀器特别适合測量和(hé)分(fēn)析超薄鍍層，即使鍍層成分(fēn)複雜(zá)或含量微小也(yě)都能準确測量。該系列産品簡單易用(yòng)且性價比高(gāo)，因此在同類産品中脫穎而出。

特性：

　　操作簡單且性價比高(gāo)。

　　自下(xià)而上進行測量，從而快(kuài)速、簡便地定位樣品

　　廣泛适用(yòng)：爲各個(gè)行業的(de)典型需求量身定制了(le)多(duō)種型号

　　以非破壞性方式進行鍍層厚度測量與元素分(fēn)析

　　帶有高(gāo)性能 X 射線管和(hé)高(gāo)靈敏度的(de)矽漂移探測器 (SDD)的(de)機型，可(kě)對(duì)極薄鍍層及微量成分(fēn)進行精确測量

　　應用(yòng)：

　　鍍層厚度測量

　　厚度僅爲幾納米的(de)貴金屬鍍層

　　時(shí)尚首飾：對(duì)代鎳鍍層等新工藝多(duō)鍍層系統進行分(fēn)析

　　抗磨損鍍層，如：對(duì)化(huà)學鎳鍍層的(de)厚度及磷含量進行測量

　　測試納米級基礎金屬化(huà)層(凸點下(xià)金屬化(huà)層，UBM)

　　材料分(fēn)析

　　測定黃(huáng)金首飾等貴金屬、手表和(hé)硬币的(de)成分(fēn)與純度

　　專業實驗室、檢測機構以及科研院校中常規材料分(fēn)析

　　依據 RoHS、WEEE、CPSIA 以及其他(tā)準則，檢測電子元件、包裝以及消費品中不合要求的(de)物(wù)質(例如重金屬)

　　功能性鍍層的(de)成分(fēn)，如測定化(huà)學鎳中的(de)磷含量